1. 前后雙工位系統，減少機器停頓時間，顯著提高工作效率2. 各種樣品吸盤、夾具定制3. 專業圖像處理與計算軟件（空洞率計算和顆粒度分析，不僅適用于超聲波掃描顯微鏡，同時可用于電鏡、光學顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、 X-Ray 等眾多顯微檢測設備）4、圓柱體、管材樣品檢測旋轉裝置5、使用要求； 220V，50Hz ，去離子水
部分可選項： 1. 大水槽，深水槽定制；各種樣品吸盤、夾具定制2. 專業圖像處理與計算軟件（空洞率計算和顆粒度分析，不僅適用于超聲波掃描顯微鏡，同時可用于電鏡、光學顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、 X-Ray 等眾多顯微檢測設備）3. 德國 PVA Hibert Filter- 外置濾波器（軟件開關控制，用于110MHz 以上延遲性探頭使用）使用要求；220V，50Hz ，去離子水如需更為詳細資料，敬請來電來函索取，如軟件、硬件升級，相關參數會有所變更，請以生產廠家確認為準。
部分可選項： 1. 德國 PVA Hibert Filter- 外置濾波器（軟件開關控制，用于110MHz 以上延遲性探頭使用）2．前后雙工位系統，減少機器停頓時間，顯著提高工作效率3. 各種樣品吸盤、夾具定制、半自動化設備升級4．在不改變掃描機構主體，升級為雙探頭（左右排列或前后排列）、四探頭掃描系統，成倍提高掃描效率4. 專業圖像處理與計算軟件（空洞率計算和顆粒度分析，不僅適用于超聲波掃描顯微鏡，同時可用于電鏡、光學顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、 X-Ray 等眾多顯微檢測設備）5、圓柱體、管材樣品檢測旋轉裝置使用要求；220V，50Hz ，去離子水備注：SAM 300 系列包含 SAM 301 HighTec 高端機型,SAM 301 UltraTec 超高速機型（雙馬達配置，掃描速度最高達 2000mm/s）SAM 300 B, SAM 301 HD2 等機型，根據具體配置予以細分，滿足不同用戶需求；歡迎您來電咨詢，我們會根據您的產品檢測需要，為您推薦最合適的機型和配置.設備如軟件、硬件升級， 相關參數會有所變更，請以生產廠家確認為準。
部分可選項： 1. 德國 PVA Hibert Filter- 外置濾波器（軟件開關控制，用于110MHz 以上延遲性探頭使用）2．前后雙工位系統，減少機器停頓時間，顯著提高工作效率3. 各種樣品吸盤、夾具定制、半自動化設備升級4．在不改變掃描機構主體，升級為雙探頭（左右排列或前后排列）、四探頭掃描系統，成倍提高掃描效率4. 專業圖像處理與計算軟件（空洞率計算和顆粒度分析，不僅適用于超聲波掃描顯微鏡，同時可用于電鏡、光學顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、 X-Ray 等眾多顯微檢測設備）5、圓柱體、管材樣品檢測旋轉裝置
（ 敬請注意：因超聲掃描技術日新月異，以下所列設備最的參數規格僅供參考，并非最新；如您需要設備最新的技術規格表或需要我們定制提供某些硬件配置或軟件功能，請您聯系對應區域的銷售人員）1、 掃描臺：第二代High Definition高清晰掃描臺；重復精度 0.05umX / Y 軸均為超高性能線性馬達（Y 軸為雙馬達）X / Y 軸具有內置磁力機構，配置儀器設備專用大理石防震臺和平衡慣性機構，確保掃描的穩定性在高速掃描過程中可隔絕振動的影響，可避免圖像因快速掃描而失真； 2. 前后雙探頭機構，可前后同時反射掃描，2倍單探頭掃描效率； 3. 前后每個探頭各自掃描范圍：最小：200 x 200 μm 最大：320 x 320 mm 4. 可自動尋找被測樣品的中心位置和樣品邊緣尺寸，自動設定掃描范圍 5. 最大掃描速度： 2,000mm/s, X 軸最大加速度：20,000mm/s2 6. 接收發射器DPR 500帶寬：500MHz 7. ADC 卡采樣頻率：5G/秒 8. 支持探頭頻率：5MHz-400MHz 9. 增益調節窗口：-22dB-50dB, 更多功能高級菜單設置 10. 主要掃描模式：A-掃描、B-掃描、X-掃描 （多層C掃描）、Z-Staple 掃描（在不同的Z高度進行連續的C掃描）、多重門限掃描、T-Scan (透射掃描)、High Quality-高清晰掃描、表面跟蹤掃描、Z-Scan實體掃描模式、托盤矩陣掃描、 Z變換掃描、順序掃描預掃描、自動掃描、空位跳躍掃描、插值掃描、分頻掃描，Over Scan等； 11. 圖像分辨率最大≥ 42,000 x 42,000 像素, 精度最小0.5um/像素；12. HiSA ...
USAMInverted 是一款專為高端研發和工業應用開發的超聲波檢測儀器，它必須安裝在防振工作臺上。將超聲波掃描顯微鏡和光學顯微鏡結合起來，允許用戶在兩者之間快速切換。 聲學和光學顯微圖像在x-y方向上的精度低于5μm，用戶可以對樣品的同一區域用聲學和光學的方法進行細致的比較。